接触点に焦げ(黒点)が発生した
抵抗値上昇による発熱が原因で使用中にデバイスの表面に黒点を発見しました。
抵抗値上昇はプローブ先端形状が不適格であるためで、スプリング荷重が弱いなどが原因でした。測定ワークにあったプローブを再選定しました。
測定している対象物を送付頂き接触抵抗値を測定しました。この数値を基にプローブを再選定し、焦げの発生を防ぐことができました。
抵抗値上昇による発熱が原因で使用中にデバイスの表面に黒点を発見しました。
抵抗値上昇はプローブ先端形状が不適格であるためで、スプリング荷重が弱いなどが原因でした。測定ワークにあったプローブを再選定しました。
測定している対象物を送付頂き接触抵抗値を測定しました。この数値を基にプローブを再選定し、焦げの発生を防ぐことができました。