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sankei-engineering 半導体用 | sankei-engineering

minsei_catch_603-86
gyokai_sokutei_head

前工程から後工程まで、様々な工程での測定を実現

silicon_table

gyokai_cp_head
cp_square_2

  • 各種測定条件に合わせたプローブを販売しています。
    インナープローブ/カンチレバー/コブラ/ハイブリッド
    ワイヤー/フライング/リジッド/メムス
  • 測定条件に合わせてプローブの選定を実施します。
  • 御要望に合わせて特注品の製作をします。

コンタクトプローブページヘ
技術資料ダウンロードページへ

gyokai_jig_head
silicon_unit

  • プローブカードとして製作します。
  • ソケットとして製作します。
  • 狭小ピッチにはユニットとして製作します。
    装置側に合わせての設計からプローブ選定まで弊社で
    対応します。
  • カーブトレーサー用冶具の製作します。
  • 測定条件に合わせてプローブの選定から簡易冶具の製作を実施します。

また測定対象物合わせて、設計から実施します。

治具・ユニットページヘ

gyokai_jyutaku_head
jyutaku_square

  • プローブの耐久試験。現在使用中のプローブとの
    比較耐久実験。
  • 選定プローブのバックアップデータ取得。
    接触抵抗値の実測。
  • 高温・低温環境下・振動負荷等、希望の環境条件下で
    ワークの電気特性実験が可能です。

受託測定のページヘ

gyokai_souchi_head
souchi_square_2

  • 試験・開発用として、抵抗、電圧降下測定装置を
    製造できます。
  • 試験・開発用として、デバイス特性を測定するために、
    ストローク・荷重をコンロールしながら接触抵抗値を
    測定できる装置。

装置製造のページヘ